涂層測厚儀常見故障及排除方法

涂層測厚儀的故障主要有示值顯示不穩(wěn)定、測量誤差較大、屏幕不顯示數(shù)據(jù)。引起這些故障的原因既有來自儀器本身，也有被測工件的原因，還有就是來自人為的影響，下面我們介紹一下排除這些故障的方法。

常見故障1:示值顯示不穩(wěn)定

導(dǎo)致涂測厚儀示值顯示不穩(wěn)定的原因主要是來自工件本身的材料和結(jié)構(gòu)的特殊性，比如工件本身是否為導(dǎo)磁性材料，如果是導(dǎo)磁性材料我們就要選擇磁性涂層測厚儀，如果工件為導(dǎo)電體，我們就得選擇渦流涂層測厚儀。

再者，被測件的表面粗糙度和附著物也是引起儀器示值顯示不 穩(wěn)定的重要因素，測厚儀的測頭對那些妨礙與覆蓋層表面緊密接觸 的附著物質(zhì)極其敏感。必須保證探頭與覆蓋層表面直接接觸。

排除方法：測量前清除被測件接觸面的灰塵、細(xì)屑、 油脂及腐蝕產(chǎn)物等附著物，但不要除去任何覆蓋層物質(zhì)。再有就是在進(jìn)行系統(tǒng)調(diào)零時(shí)，所使用的基體表面也必須是清潔、光滑的。

如感覺測量結(jié)果偏差比較大時(shí)，請先用儀器配備的塑料校準(zhǔn)片 做一輪測試，如偏離允許誤差較遠(yuǎn)則有可能是儀器本身出了問題， 需返廠檢修。在系統(tǒng)校準(zhǔn)時(shí)沒有選擇合適的基體?；w最小平面為 7mm，最小厚度為 0.2mm，低于此臨界條件測量是不可靠的。

常見故障2:測量結(jié)果誤差大

探頭的放置方式對測量有很大影響，另外，基體金屬被磁化、基體金屬厚度過小、工件曲率過小、測量基座表面有銹蝕、測量現(xiàn)場周圍有電磁場干擾等因素都有可能引起測量結(jié)果的異常，如果離電磁場非常近時(shí)還有可能會發(fā)生死機(jī)現(xiàn)象。

排除方法：在測量中應(yīng)使探頭與被測件表面保持垂直。并且探頭的放置時(shí)間不宜過長，以免造成基體本身磁場的干擾。測量時(shí)不要拖動探頭，因?yàn)檫@樣不僅對探頭會造成磨損，也不會得到準(zhǔn)確的測量結(jié)果。

常見故障3:屏幕不顯示數(shù)據(jù)

最簡單原因就是檢查電池是否電量充足，確定電池電量充足后如發(fā)現(xiàn)測量還是不顯示數(shù)值，可以考慮是否有測頭及連線有松動、 斷開或接觸不良現(xiàn)象、電池漏液后腐蝕儀器內(nèi)電子零部件等因素影響。作者在實(shí)際工作中就碰到過因測頭使用不當(dāng)被化學(xué)物品腐蝕，導(dǎo)致儀器不顯示數(shù)據(jù)的現(xiàn)象。

排除方法：檢查電池是否電量充足，是否有測頭及連線有松動、 斷開或接觸不良現(xiàn)象、電池漏液后腐蝕儀器內(nèi)電子零部件等方法。

常見故障4: 人為因素

涂層測厚儀之所以能夠測量到微米級就因?yàn)樗軌虿扇〈磐康奈⑿∽兓?，并把它轉(zhuǎn)化成為數(shù)字信號。

排除方法：使用者在測量過程中如果對儀器不熟悉就可能使探頭偏離被測體，使磁通量發(fā)生變化造成 錯誤測量。使用者初次使用儀器時(shí)，要先認(rèn)真研讀說明書，掌握好測量方法。

常見故障5: 儀器自身發(fā)生故障

長期處于工作狀態(tài)的測厚儀，極有可能發(fā)生震動、跌落、等意 外，或所處的工作環(huán)境有磁場干擾，致使儀器內(nèi)部電子零件受干擾 至損，又是由于經(jīng)多人次、多地點(diǎn)使用，導(dǎo)致儀器測量數(shù)據(jù)不可靠、 屏幕數(shù)據(jù)顯示呈亂碼、甚至無法開機(jī)等，所以建議盡量保證專人使用和保管儀器，發(fā)生故障及時(shí)返廠維修，不得擅自拆機(jī)檢測。

排除方法及注意事項(xiàng)：

(1)在進(jìn)行測試的時(shí)候要注意標(biāo)準(zhǔn)片基體的金屬磁性和表面粗糙度應(yīng)當(dāng)與試件相似。

(2)在測量的時(shí)候要注意側(cè)頭與試樣表面保持垂直。

(3)在進(jìn)行測試的時(shí)候要注意基體金屬的臨界厚度，如果大于 這個厚度測量就不受基體金屬厚度的影響。

(4)在測量的時(shí)候要注意試件的曲率對測量的影響。因此在彎 曲的試件表面上測量時(shí)不可靠的。

(5)測量前要注意周圍其他的電器設(shè)備會不會產(chǎn)生磁場，如果 會，將會干擾磁性測厚法的測厚儀。

(6)測量時(shí)要注意不要在內(nèi)轉(zhuǎn)角處和靠近試件邊緣處測量，因 為一般的測厚儀對試件表面形狀的忽然變化很敏感。

(7)在測量時(shí)要保持壓力的恒定，否則會影響測量的讀數(shù)。

(8)在進(jìn)行測試的時(shí)候要注意儀器測頭和被測試件的要直接接觸，因此超聲波測厚儀在進(jìn)行對側(cè)頭清除附著物質(zhì)。